Metallografische Probenvorbereitung für elektromagnetische Abschirmmaterialien- Trojan (Suzhou) material technology Co., Ltd.

Metallografische Probenvorbereitung für elektromagnetische Abschirmmaterialien

03-07-2026

Elektromagnetische Abschirmbeschichtungen dienen als zentrale Schutzmaterialien für 5G-Kommunikation, Präzisionselektronik und neue Energiegeräte. Mit ultradünnen Profilen, hervorragender Abschirmungseffizienz und umfassender Kompatibilität blockieren sie effektiv elektromagnetische Störungen und verhindern Signallecks, was einen stabilen Betrieb der Elektronik in komplexen elektromagnetischen Umgebungen ermöglicht. Sie sind heute die gängige leichte elektromagnetische Abschirmlösung.

Metallografische Schnitte sind die entscheidende Inspektionsmethode zur Analyse der Qualität der Abschirmbeschichtung. Nach standardisierten Probenvorbereitungsverfahren, einschließlich Probenahme, Montage, Schleifen und Polieren, können wir die Gleichmäßigkeit der Beschichtungsdicke im Querschnitt und die Bedingungen der Grenzflächenbindung visuell prüfen.

Metallografische Tests liefern eine genaue Bewertung der Beschichtungsqualität, verknüpfen die Abschirmleistung mit der Lebensdauer, unterstützen die Rezepturoptimierung für Forschungs- und Entwicklungsteams und kontrollieren Prozessabweichungen während der Massenproduktion. Es liefert wichtige Daten, um die Zuverlässigkeit und Stabilität elektromagnetischer Abschirmprodukte zu gewährleisten.

Unten ist die Vorbereitung metallografischer Proben Arbeitsablauf für die Querschnittsanalyse elektromagnetischer Abschirmmaterialien als Referenz:

1️⃣ Grobes Schleifen mit P800-Schleifpapier, um die Oberfläche zu glätten

2️⃣ Feinschliff mit P2000- und P4000-Schleifpapieren

3️⃣ Polieren mit ET-JP-Poliertuch mit 0,05 μm AO-W-Aluminiumoxidsuspension

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