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Automatische Trennschleifmaschine Beta-300Pro
Beta-300Pro ist eine vollautomatische vertikale metallografische Schneidemaschine. Es nutzt forts...
Bei beschichteten Saphirkomponenten, die in optischen und Präzisionsanwendungen verwendet werden, werden metallografische Querschnitte häufig verwendet, um die Dicke der Beschichtung und Farbschicht, die Schnittstellenqualität und die Gesamtintegrität zu bewerten.
Die Herausforderung liegt in der Vorbereitung
Bei dünnen Beschichtungen kann es beim Schneiden und Polieren leicht zu Kantenabsplitterungen, Delaminierung, Ablösung oder Abrundung kommen, wodurch es schwierig wird, den endgültigen Querschnitt genau zu messen.
Methodik und Schritte
Für diese Probe verwendeten wir präzises Schneiden bei niedriger Geschwindigkeit und Kaltmontage, um mechanische und thermische Schäden zu minimieren, gefolgt von einem schrittweisen Schleif- und Polierprozess:
- DiaRe P400 Diamant-Schleifscheibe für den Vorschliff
- POS-Feinschleifscheibe 9 ähm PD-WT polykristalline Diamantsuspension
- SC weißes Seidenpoliertuch 3 um PD-WT polykristalline Diamantsuspension
- SC weißes Seidenpoliertuch 1 um PD-WT polykristalline Diamantsuspension zum Feinpolieren
Ergebnisse und Fazit
Für beschichtete Proben wie diese reicht eine gute Oberfläche nicht aus – die Erhaltung der echten Beschichtungskante macht die Dickenmessung zuverlässig.
#Metallographie #Saphir #Beschichtungsanalyse #Querschnitt #Probenvorbereitung #OptischeMaterialien
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